O teste de circuitos integrados é vital para a funcionalidade da maioria dos dispositivos eletrônicos. Os microchips, como também são conhecidos os circuitos integrados, podem ser encontrados em computadores, telefones celulares, automóveis e praticamente qualquer coisa que contenha componentes eletrônicos. Sem testar antes da instalação final e depois de instalado em uma placa de circuito, muitos dispositivos chegariam inoperantes ou deixariam de funcionar antes do tempo de vida útil esperado. Existem duas categorias principais de teste de circuito integrado, teste de wafer e teste no nível da placa. Além disso, os testes podem ser estruturais ou funcionais.
O teste de wafer, ou sondagem de wafer, é realizado no nível de produção, antes da instalação do chip' em seu destino final. Este teste é feito usando equipamento de teste automatizado (ATE) na pastilha de silício completa, da qual será cortada a matriz quadrada dos cavacos. Antes da embalagem, o teste final é feito no nível do cartão, utilizando o mesmo ATE ou similar ao teste de wafer.
